Institut für Photogrammetrie und Fernerkundung (IPF)

N. N.

Kurzbiographie

1976 - 1982   Studium der Geodäsie, Universität Karlsruhe (heute: KIT)
Abschluss: Diplom-Ingenieur
1982 – 1984   Aufbaustudium Regionalwissenschaft, Universität Karlsruhe (heute: KIT)
1984 – 1991   Wissenschaftlicher Angestellter am Institut für Photogrammetrie und Fernerkundung, Universität Karlsruhe (heute: KIT)
1989   Promotion: „Erfassung von Straßenverkehrsdaten mit elektro-optischem Sensor und automatischer Bildauswertung“
1991 - 1992   Wissenschaftlicher Assistent am Institut für Photogrammetrie und Fernerkundung, Universität Karlsruhe (heute: KIT)
seit 1992   Akademischer Rat, Akad. Oberrat (seit 1998) und Akad. Direktor (seit 2015) am Institut für Photogrammetrie und Fernerkundung, Karlsruher Institut für Technologie KIT

Veröffentlichungen


2018
2016
2015
2013
2012
2011
2010
2009
2008
2007
2006
2005
2004
2003
2002
2001
2000
1999
1998
1997
1996
  • Schilling, K.-J.; Voegtle, T. (1996). Satellite image analysis using integrated knowledge processing. In: 18th Congress, International Society for Photogrammetry and Remote Sensing, Vienna, Austria 1996. Ed.: K. Kraus. Pt. B3. S. 752-757. (International archives of photogrammetry and remote sensing. 31,B3.).
1995
1994
1993
1992
1991
1990
1989

Auszeichnungen

  • DAMBACH-Preis 1989 (beste Promotion auf dem Gebiet des Verkehrswesens)
  • HANSA-Luftbild-Preis 2010 (bester Artikel in der Zeitschrift PFG)

Forschungsfelder

  • Digitale Photogrammetrie: automatische Extraktion von Punktwolken aus multi-view Bilddaten, True-Orthophoto, Positionsbestimmung mobiler Objekte aus Bilddaten
  • Laserscanning: Extraktion von Gebäuden und Vegetationsobjekten aus ALS-Daten, Qualitätsuntersuchungen terrestrischer Laserscanner, Materialuntersuchungen mittels Laserscannern, Reverse Engineering

 

Lehre

  •  
Photogrammetrie I Übung (1 SWS)
  •  
Photogrammetrie II (2 SWS)
  •  
Computer Vision 2D (1 SWS)
  •  
Sensorik und Datenanalyse in CV und FE (2 SWS)
  •  
Ingenieur-Photogrammetrie (3 SWS)
  •  
Flächenerfassung (Laserscanning und Auswahl anderer Methoden) (2 SWS)
  •  
Geometrische Objektmodellierung in 2D, 3D und 4D (2 SWS)
  •  
Grundlegende Verfahren der Photogrammetrie (4 SWS)
  •  
Photogrammetrie in der Architektur (4 SWS)
  •  
Remote Sensing & Geo-Informations Systems (2 SWS)

Poster Intergeo 2009

Vögtle/Schuffert: Erfassung geeigneter Dachflächen für Photovoltaik (PDF, 3.626 kB)